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詳細摘要： 芯片卡三輪往復(fù)循環(huán)測試儀根據(jù)Master 卡CQM項目對卡進行三輪測試，適用于對識別卡、帶觸點的集成電路卡進行三輪往復(fù)循環(huán)測試，將芯片卡放在機器測試滾輪之間，將...

詳細摘要： 芯片卡翹曲度測試儀該夾具采用的是固定間距的重力滑落斜面設(shè)計，用于測量卡片彎曲度。精確的一個間距可以迅速的檢查出不帶凸碼卡片的彎曲度是否超過1.5mm。

詳細摘要： IC卡扭曲測試儀 本儀器針對性IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1，國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗...

詳細摘要： 智能卡彎曲扭曲測試機 本儀器針對性IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1，國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等...

詳細摘要： IC卡芯片檢測設(shè)備 本儀器針對性IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1，國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試...

詳細摘要： IC卡動態(tài)彎扭試驗機 本儀器針對性IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1，國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等...